JEOL JED-2300/JED-2300F

Системы Analysis Station JED-2300 и JED-2300F предназначены для растровых электронных микроскопов с термической и термополевой эмиссией соответственно. Они полностью интегрируются в систему управления РЭМ. Энергодисперсионный анализ может быть запущен простым указанием точки анализа на изображении, получаемом с растрового электронного микроскопа. Функция VID позволяет проводить сравнение полученного рентгеновского спектра с рассчитанным теоретически.

На карте распределения элементов, полученной с помощью ЭДС JEOL, полный спектр сохраняется в каждом пикселе. Также в каждом пикселе сохраняются сигналы, полученные с каждого из детекторов микроскопа. Функция Play Back реализует различные режимы анализа, включая отслеживание изменений рентгеновских спектров с течением времени. Программный модуль Smile Station 2 позволяет проводить монтаж электронно-микроскопических изображений и карт распределения элементов в различных полях зрения, а также проводить точечный анализ и анализ выбранных участков образца.

Стандартные комплекты систем Analysis Station JED-2300 и JED-2300F:
I: Стандартный комплект,
II: Комплект для проведения картирования,
III: Комплект для проведения монтажа,
IV: Комплект для проведения анализа частиц,
V: Комплект с детектором большой площади для проведения анализа частиц

		I	II	III	IV	V	Примечания
Операционная система	OS Microsoft® Windows® XP или более поздняя версия, многопользовательская
Язык меню	английский
Детектор	Кремний-дрейфовый
Спектральный ЭДС-анализ	Качественный/количественный анализ (ZAF, тонких пленок)	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Визуализация и идентификация пиков	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Анализ тонких пленок	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Определение типа химического соединения, Q base (сопоставление спектров)	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Отображение скорости счета и «мертвого времени»	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
Создание отчетов	Создание отчета «в один клик»	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Программа SMile View™	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
	Экспорт результатов в Microsoft® Word и PowerPoint®	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫
Интеграция	Автоматический мониторинг условий работы микроскопа (увеличения, ускоряющего напряжения и положения столика образцов)	⚫	⚫	⚫	⚫	⚫	1
	Мониторинг величины рабочего отрезка		⚫	⚫	⚫	⚫	2
	Инициация анализа из системы управления РЭМ		⚫	⚫	⚫	⚫	2
Ассистент анализа	Установка условий анализа в форме визарда		⚫	⚫	⚫	⚫
Аналитическая станция	Инициация анализа из системы управления ЭДС		⚫	⚫	⚫	⚫
Анализ вдоль линии	Анализ вдоль линии (в том числе количественный)		⚫	⚫	⚫	⚫
Элементное картирование	Элементное картирование		⚫	⚫	⚫	⚫
	Карты элементов высокого разрешения (4096 х3072 пикс.)		⚫	⚫	⚫	⚫
	Всплывающий спектр		⚫	⚫	⚫	⚫
	Количественные карты распределения элементов		⚫	⚫	⚫	⚫
	Карта неучтенных элементов		⚫	⚫	⚫	⚫
Элементное картирование нескольких областей	Графическое отображение пятна анализа, навигация, автоматический последовательный анализ, поточечная навигация, архивация данных			⚫	⚫	⚫	3
Автоматический последовательный анализ нескольких областей	Автоматический монтаж (РЭМ-изображение, карты распределения элементов)			⚫		⚫	3
	Автоматическое получение карт распределения элементов на нескольких участках образца			⚫		⚫	3
Программное обеспечение для анализа частиц	Анализ частиц (вручную и автоматический)				⚫	⚫
	Статистический анализ (диаметр частиц, площадь и т.п.)				⚫	⚫
	Последовательный анализ частиц и ЭДС анализ нескольких площадей					⚫	4
	Программа Particle Finder					⚫	4
	Ручной просмотр					⚫	4
Анализ продуктов выстрела	Автоматический анализ продуктов выстрела					⚫	4 5
Количественный анализ PHI-RHO-Z	Более точный анализ легких элементов	⚪	⚪	⚪	⚪	⚪
Стабилизация тока пучка	Мониторинг тока пучка и поддержание его постоянным	⚪	⚪	⚪	⚪	⚪	6
	Накопление пользовательских методик	⚪	⚪	⚪	⚪	⚪	6
Одна мышь на 2 ПК	Одна мышь и клавиатура на два ПК (РЭМ и ЭДС)	⚪	⚪	⚪	⚪	⚪	7
Фазовый анализ	Автоматический фазовый анализ		⚪	⚪	⚪	⚪
Анализ данных в оффлайн-режиме	Лицензия на анализ в оффлайн-режиме	⚪	⚪	⚪	⚪	⚪

⚫-Встроено;   ⚪-Опция;

1. Возможно при подключении ЭДС к ПК РЭМ.
2. Применимо к JCM-6000 и JSM-6X10A/LA
3. Применимо к РЭМ с моторизованным столиком образцов
4. Применимо к РЭМ с моторизованным столиком образцов по осям X, Y, Z
5. Требуется программный модуль для анализа остатков выстрела.
6. Требуется блок компенсации изменений тока пучка. В РЭМ моделей JSM-7100F/7500F/7610F этот блок встроен по умолчанию.
7. JCM-6000 и JSM-6X10A/LA не требуют этой опции.