• JEM-ARM1300
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

JEOL JEM-ARM1300

Мегавольтный ПЭМ

Серия мегавольтных просвечивающих электронных микроскопов JEM-ARM1300 и JEM-ARM1000 используется в ведущих университетах и научно-исследовательских центрах мира для проведения исследований в областях материаловедения и биомедицины.

Как известно, разрешение просвечивающего электронного микроскопа определяется формулой d = 0.65Cs0.25λ0.75, где Cs – коэффициент сферических аберраций, а λ – длина волны электрона. В мегавольтном ПЭМ последняя величина является малой, и благодаря этому достигается высокое разрешение порядка одного Ангстрема даже при довольно больших расстояниях между полюсными наконечниками.

Ключевым преимуществом мегавольтных ПЭМ над более низковольтными моделями является высокая проникающая способность высокоэнергетического электронного пучка, что позволяет работать с «толстыми» образцами. Дело в том, что сто-, двухсот- и трехсоткиловольтные модели просвечивающих электронных микроскопов требуют очень сильного утонения образца (до 100-200 нм), и некоторые материалы меняют свои свойства при подобной обработке (они попросту теряют свойства массивных материалов). А не утонять образец для исследований на низковольтных моделях тоже нельзя – энергия пучка электронов будет недостаточна для прохождения через него. Решить данную проблему позволяют JEM-ARM1000 и JEM-ARM1300. В них можно исследовать образцы толщиной до одного микрометра, которые полностью сохраняют свои свойства.

Другим важным преимуществом «мегавольтников» является относительно большое расстояние между полюсными наконечниками. Благодаря этому можно создавать специальную среду для исследуемых образцов, проводить механические и термические испытания «под пучком», работать при низких температурах и т.д.

Ключевые преимущества

Высокая стабильность параметров электронно-оптической колонны.
• Возможность исследовать относительно толстые образцы.
• Возможность наклона образца на большие углы и проведения ПЭМ- томографии.
• Возможность работы в ПРЭМ-режиме.
• Возможность подключения спектрометра характеристических потерь энергии электронов.
• Возможность исследовать радиационную устойчивость образцов к высокоэнергетическим пучкам электронов и различных ионов (опция).