Системы энергодисперсионного анализа JEOL

Системы Analysis Station JED-2300 и JED-2300F предназначены для растровых электронных микроскопов с термической и термополевой эмиссией соответственно. Они полностью интегрируются в систему управления РЭМ.

Система JED-2300T Analysis Station предназначена для установки на просвечивающие электронные микроскопы JEOL. Она использует кремний-дрейфовые детекторы (SDD) с кристаллами площадью 30, 60 либо 100 мм2. Наибольшим спросом пользуется последний из них, Dry SD100GV Detector, поскольку он отличается высокой чувствительностью и позволяет одновременно изучать и морфологию, и элементный состав наноразмерных или чувствительных к воздействию пучка объектов. Конструкция этого детектора позволяет приближать его к образцу настолько близко, что угол сбора может составлять до 0,98 стеррадиан (на ПЭМ с полюсными наконечниками высокого разрешения). Еще одним достоинством SD100GV является то, что его энергетическое разрешение не принесено в жертву большой площади кристалла – пики бора, углерода, азота и кислорода в регистрируемом спектре четко разделяются между собой.