• Bruker QUANTAX FlatQUAD
  • Характеристики
  • Фотогалерея

OXFORD AZtec

Компания Оксфорд Инструментс более 40 лет разрабатывает системы микроанализа с учетом мнения самого большого в мире микроаналитического сообщества. Последняя разработка – система AZtec, включающая в себя и более раннюю версию – прекрасно зарекомендовавшую себя систему INCA.

Система энергодисперсионного микроанализа AZtec для сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии представляет собой программно-аппаратный комплекс на основе детекторов X-Max с площадью активной зоны от 10 до 150 мм2 и модульного программного обеспечения. Все детекторы имеют безазотное охлаждение.

Преимущества систем микроанализа AZtec:

  • Высокая скорость накопления данных обеспечивается многопоточной обработкой с использованием всех преимуществ многоядерных процессоров;
  • Малогабаритные ЭДС на основе кремний-дрейфовых детекторов, которые можно подвести к образцу на малые расстояния;
  • Высокая скорость обработки данных;
  • Превосходное энергетическое разрешение, которое обеспечивает высокую точность анализа и не зависит от активной площади детектора;
  • База данных спектров обеспечивает высокую степень достоверности получаемых данных, правильную идентификацию всех пиков, включая и низкоэнергетические;
  • Новые, усовершенствованные алгоритмы расчета обеспечивают высокую точность анализа;
  • Точный, быстрый количественный анализ и картирование при скоростях счета до 250000 имп./с;
  • Возможность выбора режима работы: для начинающего аналитика (шаг за шагом программа направляет действия оператора) или пользовательский режим для опытного пользователя с полной свободой действий;
  • Широкий выбор дополнительных программных модулей для решения различных задач;
  • Хорошо продуманный, простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс;
  • Персональные настройки для каждого пользователя;
  • Возможность создания отчетов по единой схеме, на основе корпоративных шаблонов;
  • Возможность объединения до 4 детекторов ЭДС в единую систему с целью повышения экспрессности анализа и повышения точности анализа рельефных образцов;
  • В реальном времени объединяются данные от детекторов ЭДС и EBSD, либо от ЭДС и ВДС;
  • Встроенные структурные базы данных материалов;
  • АЦТЕК автоматически выполняет качественный и количественный анализ, коррекцию наложений и т.д. обеспечивая наилучшие результаты;
  • Настройка анализа под Ваши требования;
  • Не требуется никакой предварительной информации об образце – АЦТЕК обнаружит все элементы и выявит структуру;
  • Картирование происходит в реальном времени и выявляет истинное распределение элементов c деконволюцией перекрывающихся пиков в реальном времени; Картирование с получением полных спектральных данных ЭДС одновременно с данными EBSD упрощает повторный анализ и ре-интерпретацию результатов;
  • Коррекция дрейфа изображений с микроскопа на основе интеллектуальных алгоритмов для получения наиболее четких карт;
  • Спектральное картирование с разрешением 4х4k позволяет накапливать действительно БОЛЬШИЕ карты!