Детекторы X-Max80T и X-Max80TLE для ПЭМ
Для элементного анализа на просвечивающих электронных микроскопах компания OXFORD Instruments разработала уникальные высокоэффективные кремний-дрейфовые детекторы X-Max80T (со сверхтонким полимерным окном) и X-Max80TLE (без окна). Активная площадь детекторов у них составляет 80 мм2, что позволяет быстро проводить элементный и фазовый анализ тонких или чувствительных к воздействию электронного пучка образцов. Охлаждение кристаллов осуществляется при помощи элемента Пелтье и не создает вибраций.
Преимущества систем микроанализа OXFORD X-Max80T и X-Max80TLE:
- Высочайшая чувствительность по легким элементам, благодаря малой толщине окна у системы X-Max80T и его полному отсутствию у системы X-Max80TLE.
- Высокая чувствительность анализа, благодаря большой активной площади детектора;
- Высокая скорость построения карт распределения элементов в образце, благодаря большому углу сбора рентгеновского излучения и высоким скоростям счета;
- Возможность анализа при малых токах пучка, что важно при работе с биологическими образцами, материалами, чувствительными к воздействию электронного луча, а также плохопроводящими образцами;
Для элементного анализа на просвечивающих электронных микроскопах компания OXFORD Instruments разработала уникальные высокоэффективные кремний-дрейфовые детекторы X-Max80T (со сверхтонким полимерным окном) и X-Max80TLE (без окна). Активная площадь детекторов у них составляет 80 мм2, что позволяет быстро проводить элементный и фазовый анализ тонких или чувствительных к воздействию электронного пучка образцов. Охлаждение кристаллов осуществляется при помощи элемента Пелтье и не создает вибраций.
