Пробоподготовка

RMC GKM-2

Пробоподготовка
Изготовление стеклянных ножей

IB-09060CIS

Охлаждаемая система ионной полировки образцов для просвечивающей электронной микроскопии

IB-19520CCP

Система Cooling Cross-Section Polisher IB-19520CCP предназначена для получения поперечных сечений образцов в широком диапазоне температур

IB-19530CP

Система Cross-Section Polisher IB-19530CP предназначена для получения поперечных сечений образцов

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater) предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ). Нанесенное на поверхность образца тонкое металлическое покрытие позволяет работать с исходно непроводящими образцами в режиме высокого вакуума и получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением. Магнетронное напыление особенно востребовано при работе с биологическими образцами.

JEC-3000FC

Настольная установка JEC-3000FC предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии.

EM-09100IS

Система Ion Slicer EM-09100IS предназначена для подготовки образцов к исследованию, в основном, в просвечивающих электронных микроскопах. Используемый метод ионного утонения позволяет получить тонкий, прозрачный для пучка электронов, образец, без механической шлифовки, которая может вносить искажения в структуру объекта исследования. Также площадь прозрачного образца, получаемого с помощью Ion Slicer, гораздо больше, чем при применении традиционных методов.

IB-09020CP

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09020CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность и преимущество данного метода состоит в том, что независимо от состава образца получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр. Можно наблюдать процесс травления на мониторе. Скорость травления практически вдвое выше, чем у модели Cross-Section Polisher (CP) IB-09020CP.

IB-09010CP

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность данного метода состоит в том, что, независимо от состава образца, получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр.

IB-29500VED - IB-29510VET

Универсальные вакуумные напылительные установки IB-29500VED и IB-29510VET разработаны для быстрой и качественной подготовки образцов к исследованиям в просвечивающем или растровом электронном микроскопе.

IB-09010CP

EC-32010CC

Настольная установка EC-32010CC предназначена для напыления тонкого слоя углерода на непроводящие образцы перед проведением их исследований в растровом электронном микроскопе. Уникальная система подачи углеродного стержня напыляет образец поэтапно с шагом около 20нм.

Каждый специалист в области электронной микроскопии знает, насколько важно правильно подготовить образцы к исследованиям. Получение воспроизводимых и достоверных результатов, изображений высокого качества напрямую зависит от правильной подготовки образцов. Просвечивающая и растровая электронная микроскопия позволяет работать с самыми разными типами образцов – металлами, минералами, полимерами, биологическими тканями и т.д. Каждый тип образца предъявляет свои требования к подготовке для исследования в условиях вакуума и облучения электронным пучком. Задача пробоподготовки – максимально сохранить структуру материала и его свойства, обеспечить устойчивость в вакууме, под высокоэнергетичным электронным пучком. С другой стороны, не всегда есть возможность поместить в камеру микроскопа весь образец, приходится его резать. В просвечивающей электронной микроскопии, например, образец представляет собой тонкий срез толщиной 0,1-1мкм.

Зачастую процесс приготовления образцов к электронно-микроскопическим исследованиям довольно сложен и трудоемок. В настоящее время разработано множество различных устройств, систем пробоподготовки и приспособлений для подготовки разных типов образцов. Это автоматизированные системы перфузии, сушки в критической точке, механические устройства для прессовки, прецизионной резки, шлифовки и полировки; системы ионной резки и полировки образцов, напыления на их поверхность слоев углерода и различных металлов и т.д.

Мы предлагает своим заказчикам полный спектр устройств пробоподготовки ведущих мировых производителей. В зависимости от типов образцов и задач исследований мы можем посоветовать различные методы и устройства.