• IB-19530CP
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

Система Cross-Section Polisher IB-19530CP

Система Cross-Section Polisher IB-19530CP предназначена для получения поперечных сечений образцов. Принцип её действия достаточно прост: часть образца закрывается специальной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности образца и вытравливает часть образца, не защищенную пластиной. Этот процесс напоминает резку бумаги лезвием «под линейку». Благодаря доработке конструкции, инженерам JEOL удалось увеличить срок службы защитной пластины более, чем в 3 раза по сравнению таковым в системах предыдущей модификации.

Малая энергия пучка (2 – 8 кэВ) и скользящий угол падения сводят к минимуму радиационные повреждения получаемого поперечного сечения, и, тем самым, сохраняют исходные структуру и фазовый состав образца, что особенно важно для таких исследований как дифрактография отраженных электронов (EBSD), а так же для исследований методами ЭДС, ВДС и Оже-спектроскопии.

Cross-Section Polisher позволяет получать чистые и гладкие поперечные срезы материалов, которые трудно поддаются механической полировке, например мягких и вязких (медь, алюминий, золото, различные припои, полимеры и т.д.), сложных для резки (керамика, стекло, алмаз и композитные материалы на их основе). Особенно хорош СР для изготовления поперечных срезов многослойных и неоднородных материалов, в которых встречаются твёрдые и мягкие фазы.

Управление Cross-Section Polisher осуществляется с помощью сенсорного экрана. Устройство оснащено цифровой камерой, позволяющей наблюдать поверхность образца с увеличением 70 крат для её правильного позиционирования перед началом травления. В качестве опции доступна вторая цифровая камера, устанавливаемая в вакуумной части IB-19530CP и позволяющая контролировать процесс травления для достижения наилучшего результата. Для заказчиков, которые хотят максимально загрузить работой Cross-Section Polisher, существует возможность запрограммировать процесс травления и финишной полировки. Специалистами JEOL были разработаны также специальные программы для легкоплавких и чувствительных к воздействию ионного луча образцов.

Кроме стандартного образцедержателя IB-11560MBSH, Cross-Section Polisher IB-19530CP может быть доукомплектован специальными держателями, существенно расширяющими круг решаемых задач.