- На главную ->
- Приборы ->
- Просвечивающие микроскопы ->
- JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM300)
- JEM-Z300FSC (CRYO ARM300)
- Технические характеристики
- Фотогалерея
JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM300)
300 кВ криогенный просвечивающий электронный микроскоп с атомным разрешением
Анонсированный на несколько месяцев позже, чем
CRYO ARM200, JEM-Z300FSC (CRYO ARM300) вобрал в себя многие черты своего собрата.
Криогенное хранилище и автоматическая система смены образцов
CRYO ARM300 оснащён хранилищем, рассчитанным на 12 образцов, предметным столиком и полностью автоматизированной системой загрузки и смены образцов, поддерживаемыми при температуре, близкой к температуре жидкого азота (около 100 К). Система позволяет вносить в хранилище до 4 образцов за 1 раз, не нарушая температурное состояние остальных, уже имеющихся там объектов. Тщательно продуманная специалистами JEOL процедура маркировки образцов удобна и абсолютно прозрачна для оператора просвечивающего электронного микроскопа. Также она позволяет легко автоматизировать процесс исследований, сделать его непрерывным, круглосуточным, и тем самым избегать простоя прибора.
Автоэмиссионная электронная пушка
Автоэмиссионный («холодный») источник микроскопа JEM-Z300FSC даёт очень яркий, когерентный луч, характеризующийся крайне малым разбросом электронов по энергии. Это позволяет CRYO ARM300 выдавать изображения с рекордно высоким пространственным разрешением, недостижимым для других 300-киловольтных крио-ПЭМ, а также проводить анализ спектров характеристических потерь энергии электронов с хорошим энергетическим разрешением.
Встроенный в колонну энергетический фильтр (Омега-фильтр)
В электронно-оптическую колонну CRYO ARM300 встроен усовершенствованный Омега-фильтр, позволяющий изучать EELS-спектры белковых структур и получать микрофотографии, регистрируя лишь электроны с нулевыми потерями энергии. Такие изображения характеризуются высоким контрастом благодаря малому коэффициенту хроматических аберраций.
Программа автоматического анализа отдельных частиц
В состав программного обеспечения JEM-Z300FSC входит модуль JADAS, предназначенный для автоматического анализа отдельных частиц. Он позволяет автоматически находить отверстия в сетке и получать микрофотографии высокого разрешения без какого-либо участия оператора. Кроме того, CRYO ARM300 полностью совместим с пакетом SerialEM (разработка Колорадского университета в Боулдере).
Фазовая пластина (опция)
Для самых требовательных заказчиков, с целью повышения контраста изображений в несколько раз, в качестве опции к JEM-Z300FSC JEOL готов предложить фазовую пластину без отверстий. Эта пластина, называемая Hole-Free Phase Plate (HFPP), представляет собой сплошную тонкую углеродную плёнку. Она располагается в задней фокальной плоскости объективной линзы и сильно повышает контраст микрофотографий замороженных углеводородных образцов. Специалистам JEOL удалось разработать и запатентовать относительно недорогую технологию производства таких фазовых пластин.
Функции автоматической настройки ПЭМ
Разработчики JEM-Z300FSC старались сделать ПЭМ максимально производительным и удобным в использовании. Для этого они включили в состав управляющего программного обеспечения такие функции как автофокусировка, автоматическое устранение астигматизма, автоматическое получение параллельного пучка электронов и многие другие. CRYO ARM300 проводит все настройки параметров электронной оптики, используя цифровую камеру нижнего крепления, а оператору остаётся лишь задать параметры эксперимента.
