JEOL JEM-2100 LaB6

JEM-2100 позволяет решать очень широкий круг задач в сфере материаловедения, наноэлектроники и биологии.

Система управления этим ПЭМ работает под Microsoft Windows и позволяет легко переключаться между режимами сканирующе-просвечивающего электронного микроскопа (как светло-, так и темнопольным), энергодисперсионного элементного анализа или спектроскопии характеристических потерь энергии электронов.

JEM-2100 понравился многим пользователям своим высокоточным и крайне стабильным гониометрическим столиком образцов, оснащенным пьезомеханической системой компенсации дрейфа, которая позволяет получать четкие микрофотографии высокого разрешения, осуществлять элементное картирование наноразмерных образцов, а также проводить их 3D-томографию.

В конструкцию электронно-оптической колонны JEM-2100 заложены три независимые конденсорные линзы, которые обеспечивают очень высокий ток пучка для любой его толщины, обеспечивая тем самым большие возможности для элементного анализа и микродифракции. Запатентованный компанией JEOL Alpha Selector™ позволяет пользователю легко выбирать множество различных режимов освещения образца от полностью сходящегося пучка до полностью параллельного. Наличие в системе штатной объективной минилинзы означает то, что микроскопия Лоренца (наблюдение магнитных доменов) доступна даже для базовой комплектации данного микроскопа. Диафрагма высокого контраста совместима с любым полюсным наконечником, что позволяет одновременно получать контрастные изображения и проводить элементный анализ.

Ключевые преимущества

Основные преимущества JEM-2100, которые делают его одним из самых распространенных 200-киловольтным ПЭМ в мире:
• Классическая, высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна, доведенная до совершенства.
• Большой выбор полюсных наконечников объективной линзы для любого класса задач: высокого и сверхвысокого разрешения для изучения наносистем; большого наклона для томографии и 3D-реконструкции объектов исследований; криогенный для работы с биологическими и чувствительными к электронному пучку образцами; высокого контраста для анализа образцов, состоящих из легких элементов.
• Возможность наклона образца на угол до 80º делает возможной проведение двухосевой томографии.
• Полная автоматизация процесса томографии и 3D-реконструкции образца.
• Возможность работы в ПРЭМ-режиме.
• Возможность проведения элементного анализа при помощи энергодисперсионного спектрометра с безазотным охлаждением.
• Высокостабильный 5-осевой моторизованный столик образцов с пьезомеханической компенсацией дрейфа и возможностью работы с криодержателями.
• Возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований.
• Относительно невысокая стоимость покупки и владения прибором.