JEOL JEM-2200FS

Этот прибор — оптимальное решение для исследований в области нанотехнологий, включая нанобиотехнологии, материаловедение и полупроводниковую промышленность.

Встроенный Омега-фильтр позволяет решать аналитические задачи, а также существенно улучшает контраст изображений, даже при работе с толстыми или замороженными образцами.

Микроскоп JEM-2200FS имеет встроенную прецизионную ПЗС камеру, взамен традиционного флуоресцентного экрана и бинокуляра.

Как и все ПЭМ последнего поколения, данный микроскоп имеет полностью автоматическую систему управления.

От базовых исследований к сложным экспериментам

Просвечивающий электронный микроскоп – это необходимый инструмент для целого спектра исследований в области изучения материалов на наноуровне, включая биотехнологии и материаловедение, а также в разработке полупроводниковых технологий.

JEM-2200FS – единственный аналитический электронный микроскоп, оснащенный 200-кВ пушкой с катодом Шоттки и встроенным в колонну, полностью интегрированным, энергетическим фильтром, который позволяет не только получать отфильтрованные изображения, но и проводить элементный и химический анализ образцов.

Встроенный в колонну омега-фильтр

Энергетический фильтр, встроенный в колонну, позволяет получать отфильтрованные изображения и электронные спектры без энергопотерь. Он дает возможность получать данные без искажений, что достигается благодаря оптимально спроектированной электронно-оптической системе.

Система контроля

Основные компоненты JEM-2200FS, такие, как электронно-оптическая система, каретка гониометра и вакуумная система полностью контролируются управляющим компьютером. Высокая стабильность данной системы обеспечивает высокое качество получаемых данных.

Система визуализации

Новая система визуализации, состоящая из четырехступенчатых промежуточных линз и двухступенчатых проекционных линз, позволяет получать бесповоротные отфильтрованные изображения и картины дифракции в широком диапазоне увеличений и длин камеры.

Гониометр с пьезоподвижкой

Платформа гониометра, оснащенная пьезоприводом, обеспечивает плавные перемещения образца при работе на высоких увеличениях, а также полностью компенсирует дрейф, делая возможным спектральный анализ на атомном уровне и ПЭМ-томографию.

Дооснащение ЭДС

При необходимости проведения анализа элементного состава исследуемых образцов JEM-2200FS комплектуется энергодисперсионным спектрометром (ЭДС).

Дооснащение цифровыми камерами

В зависимости от типов исследуемых образцов и решаемых научных задач, JEM-2200FS может быть дооснащен ПЗС-камерами как бокового, так и нижнего крепления. Камера бокового крепления обеспечивает очень широкое поле зрения и не требует большого времени экспозиции образца, благодаря чему применяется для работы с объектами, чувствительными к воздействию электронного пучка. Камера нижнего крепления обеспечивает высокое пространственное разрешение и используется для исследований стабильных материалов.