• JEM-2800
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

JEOL JEM-2800

Высокопроизводительный автоматизированный ПЭМ, РПЭМ, РЭМ с расширенными аналитическими возможностями
JEM-2800 – это высокопроизводительный аналитический ПЭМ с автоматизированным управлением, которое делает его идеальным прибором для контроля различных стадий технологического процесса и качества выпускаемых изделий в полупроводниковой промышленности, также для материаловедческих целей. Этот универсальный ПЭМ получает микрофотографии в режимах просвечивающего, растрового просвечивающего и растрового микроскопов, проводит высокочувствительный элементный анализ при помощи широкоуглового энергодисперсионного спектрометра (ЭДС) и химический анализ с использованием спектрометра характеристических потерь энергии электронов, позволяет оценивать размеры компонент, проводить томографию и «in situ»-наблюдения за образцами. JEM-2800 полностью удовлетворяет требованиям для работы в чистых помещениях.

Автоматизированный и дружественный по отношению к пользователю

Система управления JEM-2800 включает в себя множество автоматических функций, среди которых фокусировка, коррекция астигматизма, установка уровней контраста и яркости, позиционирование кристалла по оси, установка образца по высоте. Переключение между режимами работы микроскопа происходит очень легко, сбор экспериментальных данных также происходит быстро, и время, необходимое для исследования каждого образца существенно сокращается.

Интуитивно понятная экранная система подсказок делает JEM-2800 дружественным по отношению к пользователю просвечивающим электронным микроскопом для оператора любой квалификации.

Быстрый сбор данных

JEM-2800 одновременно сочетает в себе два таких полезных качества, как высокое разрешение при регистрации изображений наноструктур и высокую скорость анализа. Это стало возможным благодаря обширному набору предварительных настроек электронно-оптической колонны, обеспечивающему оптимальные режимы работы для работы с образцами любого типа и для проведения всех типов анализа. Это положительно влияет на скорость сбора и достоверность получаемых данных.