JEOL JEM-ARM200F NEOARM

Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-ARM200F NEOARM позволяет получать изображения и проводить химический анализ на атомном уровне с использованием энергодисперсионного спектрометра (ЭДС) и спектрометра характеристических потерь энергии электронов (EELS) . Электронно-оптическая колонна данного прибора оснащена приставкой режима просвечивающего растрового элекронного микроскопа (ПРЭМ) и встроенным додекапольным ПРЭМ-корректором сферических аберраций ASCOR (Advanced STEM Corrector). Атомное пространственное разрешение сочетается с высоким током зонда, позволяющим быстро проводить элементный и фазовый анализ. NEOARM реализует высочайшую стабильность как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.

Источник электронов ПЭМ JEM-ARM200F NEOARM - на базе «холодного» (автоэмиссионного) катода. При использовании темнопольного высокоуглового детектора (STEM-HAADF) прибор позволяет получать разрешение 71 пикометр с энергетической дисперсией электронов в пучке порядка 0,3 эВ. Достигаемые при этом более высокая яркость, меньший энергетический разброс и сверхстабильная эмиссия существенно повышают качество получаемых изображений, локальность и достоверность результатов химического анализа. JEM-ARM200F с «холодным» катодом – уникальный прибор с технологией «Flash & Go», позволяющей осуществлять периодический отжиг катода (flashing) за считанные минуты, экономя время исследователя.

Новый дизайн
Как и другие новые модели ПЭМ JEOL, NEOARM эргономичен, оснащён удобными панелями управления и программным интерфейсом управления, называемым «ПЭМ-центром». Кроме того, новое программное обеспечение JEOL COSMO (Corrector System Module) с заложенным в него полностью автоматизированным алгоритмом коррекции аберраций SRAM (Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix) не требует наличия специального образца и быстро, в автоматическом режиме, устраняет аберрации до 5-го порядка включительно. Таким образом, программное обеспечение просвечивающего электронного микроскопа NEOARM берёт на себя большую часть работы оператора по настройке прибора, в разы повышая производительность.

Улучшенная электрическая стабильность
Высокостабильная система электропитания ПЭМ JEM-ARM200F нивелирует колебания токов и напряжений гораздо эффективнее, чем это происходит в других просвечивающих электронных микроскопах, что в значительной степени улучшает общую стабильность электронной оптики прибора. Стабильность ускоряющего напряжения составляет 1*10^-6/мин., а стабильность тока объективной линзы - 0,5*10^-6/мин.

Улучшенная механическая стабильность
Механическая прочность конструкции JEM-ARM 200F была повышена путем дополнительного укрепления электронно-оптической колонны микроскопа и основания микроскопа. Диаметр колонны увеличен с 200 до 300 мм, а сама колонна ПЭМ NEOARM расположена как можно ниже для того, чтобы придать ей максимальную устойчивость от вибраций.

Положительными побочными эффектами этих мер стали:
1) более удобная смена образца (он находится невысоко);
2) снижение требований к высоте потолка в помещении для установки микроскопа;
3) возможность легко установить ещё один корректор сферических аберраций.

Кроме того, для защиты от воздействия внешних воздушных потоков и акустических помех, для экранирования от магнитных наводок и для повышения температурной стабильности колонна NEOARM закрывается специальным кожухом.