Компания "Токио Боэки" более 55 лет специализируется на поставках в Россию и страны СНГ научного и лабораторного оборудования. "Токио Боэки" известна, прежде всего, как официальный представитель ведущего японского производителя электронно-оптического и аналитического оборудования - компании JEOL. Кроме того, мы поставляем оборудование английских, американских и немецких компаний, таких как OXFORD INSTRUMENTS ANALYTICAL (системы для микроанализа), GATAN (приставки к электронным микроскопам, системы пробоподготовки), OLYMPUS SOFT IMAGING SYSTEM (программное обеспечение и системы регистрации для электронной микроскопии) и др.

Поставляемое оборудование находит широкое применение: от фундаментальных исследований, до решения сугубо прикладных задач на современных производствах.

"Токио Боэки" предоставляет своим заказчикам весь спектр услуг: поставку оборудования, гарантийное и послегарантийное обслуживание, поставку запчастей и расходных материалов, обучение персонала, методическую поддержку и т.д.

  • JEM-ARM200F
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

JEOL JEM-ARM200F

200 кВ ПЭМ с атомным разрешением
JEM-ARM200F - ПЭМ нового поколения, уже завоевавший признание пользователей, благодаря высокой надежности и прекрасным техническим характеристикам. Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, ПРЭМ-режим и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.

ПЭМ JEM-ARM200F выпускается в двух версиях: с источником электронов на базе термополевого катода Шоттки или с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. В первом случае, при использовании темнопольного высокоуглового детектора (STEM-HAADF), прибор позволяет получать разрешение 80 пикометров. В модификации с «холодным» катодом гарантируется разрешение 78 пикометров и энергетическая дисперсия пучка в пределах 0,3 эВ. При этом более высокая яркость пучка, меньший энергетический разброс и сверхстабильная эмиссия существенно повышают качество получаемых изображений, локальность и достоверность результатов элементного анализа. JEM-ARM200F с холодным катодом – единственный в мире прибор с технологией «Flash & Go», позволяющей осуществлять периодический отжиг катода (flashing) за очень короткий промежуток времени (1 минута!), экономя время исследователя.

Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM200F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. JEM-ARM200F демонстрирует высочайшую стабильность, как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.

Новая конструкция

JEM-ARM200F имеет полностью обновленный дизайн, новую панель управления и новый программный интерфейс управления, т.н. называемый «ПЭМ-центр». Для того, чтобы исключить влияние возможных вибраций вследствие воздействия на ПЭМ внешних воздушных потоков и акустических помех, колонна микроскопа закрывается специальным кожухом.

Улучшенная электрическая стабильность

Система электропитания ПЭМ JEM-ARM200F нивелирует возможные флуктуации в два раза эффективнее, чем традиционные ПЭМ, что в значительной степени улучшает общую стабильность электронной оптики прибора.
Улучшение стабильности ускоряющего напряжения: было 2 x 10-6/мин => стало 1 x 10-6/мин.
Улучшение стабильности тока объективной линзы: было 1 x 10-6/мин => стало 0,5 x 10-6/мин.

Улучшенная механическая стабильность

Механическая прочность конструкции JEM-ARM 200F была повышена путем дополнительного укрепления колонны микроскопа и его основания. Кроме того, для повышения стабильности колонны ее диаметр был увеличен с 200 до 300 мм. Конструкция колонны позволяет устанавливать один или два Cs-корректора (ПЭМ и ПРЭМ режима).

Jeol Oxford Gatan Bruker

© 1959—2023 TOKYO BOEKI.

All Rights Reserved.