• JEOL JEM-ARM300F2 (GRAND ARM 2)
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-ARM300F2 (GRAND ARM 2)

300 кВ ПЭМ с атомным разрешением
JEM-ARM300F2 – усовершенствованная версия просвечивающего электронного микроскопа JEOL JEM-ARM300F (GRAND ARM) с расширенными аналитическими возможностями. Новая модель получила название GRAND ARM 2.

Полюсный наконечник FHP2
FHP2 (Full High-resolution Polepiece type 2), пришедший на смену полюсному наконечнику FHP, позволяет
1. Проводить сверхчувствительный рентгеновский анализ при сверхвысоком разрешении. По сравнению с FHP, FHP2 позволяет регистрировать флуоресцентное излучение образца под вдвое большим телесным углом (1,4 стеррадиана);
2. За счёт крайне малых коэффициентов сферической и хроматической аберраций достигать высочайшего пространственного разрешения (53пм при 300кВ и 96пм при 80кВ)

Полюсный наконечник WGP
Альтернативным вариантом является полюсный наконечник WGP (Wide Gap Polepiece), который за счёт большого расстояния между верхней и нижней линзами позволяет
1. Устанавливать энергодисперсионные спектрометры с большой рабочей площадью детекторов и проводить ЭДС-анализ в режиме реального времени (детектируемый телесный угол - 2,2 стеррадиана);
2. Использовать образцедержатели специального назначения и проводить исследования образцов при высоких или низких температурах, под механической нагрузкой, в заданной среде и т.д.

Защитный кожух
Специальный защитный кожух позволяет нейтрализовать негативные влияния на колонну ПЭМ потоков воздуха, градиентов температуры и акустических шумов.