- На главную ->
- Приборы ->
- Растровые микроскопы ->
- Микроскопы с полевой эмиссией
Микроскопы с полевой эмиссией
![](assets/templates/main/img/sem/jsm_it800/jeol-jsm-it800_s.jpg)
JEOL JSM-IT800
Новый растровый электронный микроскоп японской компании JEOL, JSM-IT800, пришедший на замену РЭМ JSM-F100, характеризуется ещё более высоким разрешением, достигаемым благодаря специальной конструкции объективной линзы.
![](assets/templates/main/img/sem/jsm_it700hr/jeol-jsm-it700hr_s.jpg)
JEOL JSM-IT700HR
За основу РЭМ JSM-IT700HR был взят хорошо себя зарекомендовавший многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500HR, у которого была изменена конструкция электронной пушки с целью повышения разрешения и максимального тока электронного луча. Буквы HR в названии модели означают «High Resolution» (высокое разрешение)
![](assets/templates/main/img/sem/jsm_7900f/jeol-jsm-7900f_s.jpg)
JEOL JSM-7900F
Флагманская модель РЭМ с термополевым катодом JSM-7900F позволяет получать изображения с высоким разрешением как проводящих, так и непроводящих образцов, благодаря улучшенному режиму торможения луча Gentle Beam (GBSH)
![](assets/templates/main/img/sem/jib-4700f/jeol-jib-4700f_s.jpg)
JEOL JIB 4700F
JIB-4700F – это двулучевая система, представляющая собой термополевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления
![](assets/templates/main/img/sem/jsm_7610fplus/jeol-jsm-7610plus_s.jpg)
JEOL JSM 7610F Plus
JSM-7610F Plus – это растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.)