Микроскопы с полевой эмиссией

JEOL JSM-7900F

Флагманская модель РЭМ с термополевым катодом JSM-7900F позволяет получать изображения с высоким разрешением как проводящих, так и непроводящих образцов, благодаря улучшенному режиму торможения луча Gentle Beam (GBSH)

JEOL JSM-F100

JEOL JSM-F100 - новый растровый электронный микроскоп компании, пришедший на замену РЭМ JSM-7200F, способен работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи

JEOL JSM-IT500HR

В отдел разработок JEOL поступало много запросов на создание недорогого, компактного растрового электронного микроскопа с катодом Шоттки и большой камерой образцов. За основу был взят высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500

JEOL JIB 4700F

JIB-4700F – это двулучевая система, представляющая собой термополевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления

JEOL JSM 7610F Plus

JSM-7610F Plus – это растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.)