• JSM-IT500HR
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

Растровый электронный микроскоп JSM-IT500HR

В отдел разработок JEOL поступало много запросов на создание недорогого, компактного растрового электронного микроскопа с катодом Шоттки и большой камерой образцов. За основу был взят высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500, для которого были разработаны специальная электронная пушка и система линз с воздушным охлаждением. Новая модель получила название JSM-IT500HR, где буквы HR означают «High Resolution» (высокое разрешение).

Система управления, как и у JSM-IT500, основана на 64-битной операционной системе Windows 10, надёжна, предельно проста и интуитивно понятна. Она позволяет управлять микроскопом четырьмя способами: при помощи клавиатуры и мыши; при помощи консоли оператора РЭМ; используя 23-дюймовый сенсорный монитор; либо дистанционно, с планшета iPad по сети Wi-Fi. Последний способ хорош при работе с вредными для здоровья оператора образцами или когда РЭМ установлен в «чистом помещениии», где длительное нахождение персонала некомфортно и нежелательно. Все функции управления микроскопом автоматизированы: откачка, накал катода, фокусировка изображения, устранение астигматизма, корректировка яркости и контраста и т.п. Это позволяет даже новичкам быстро освоиться за прибором и получать хорошие результаты. Для опытных операторов оставлена возможность самостоятельно осуществлять настройки всех вышеуказанных параметров вручную.

Конденсорная линза JSM-IT500HR позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса. Отклоняющие катушки (дефлекторы) рассчитаны на большие углы отклонения электронного пучка, что делает удобной работу с большими образцами. Специальная конструкция вакуумной системы, источника электронов и пушки JSM-IT500HR существенно продлевает срок службы катода Шоттки, вплоть до 5 лет и более. Диафрагма объективной линзы легко заменяется и центрируется силами оператора, что значительно ускоряет и удешевляет сервисное обслуживание прибора.

Для проведения исследований непроводящих, сильно газящих и чувствительных к воздействию электронного луча образцов (например, биологических тканей или полимеров) в растровом электронном микроскопе JSM-IT500HR реализован режим контролируемого низкого вакуума. Давление в камере образцов при этом может быть изменено в пределах от 10 до 150 Па.

Большое количество портов в камере образцов JSM-IT500 позволяет устанавливать разнообразные приставки и проводить спектральное картирование, анализ элементного и фазового состава образцов в отдельных точках, по площади и вдоль линии, изучать локальные резистивные характеристики объектов исследований, их спектры катодолюминесценции, комбинационного рассеяния и многое другое.

Основные преимущества JSM-IT500HR:


• Надежная электронно-оптическая колонна, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса;
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 200 мм, а также устанавливать множество разнообразных приставок;
• Специальная конструкция электронной пушки обеспечивает катоду Шоттки срок службы от 5 лет;
• Тщательно продуманная, полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система отличается высочайшей надёжностью и долговечностью;
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows 10 с хорошо развитой системой подсказок и обучающих видеопособий делает работу оператора быстрой и удобной;
• Специализированное программное обеспечение для морфометрического анализа изображений, статистической обработки данных и автоматического создания отчетов позволяет быстро и наглядно представить полученные результаты;
• Использование шлюзовой камеры сокращает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения окошек аналитических приставок, в несколько раз продлевает срок службы катода и диафрагм микроскопа;
• Система навигации по оптическому изображению позволяет легко различать установленные на предметном столике образцы и находить нужные участки на их поверхности.