Компания "Токио Боэки" более 55 лет специализируется на поставках в Россию и страны СНГ научного и лабораторного оборудования. "Токио Боэки" известна, прежде всего, как официальный представитель ведущего японского производителя электронно-оптического и аналитического оборудования - компании JEOL. Кроме того, мы поставляем оборудование английских, американских и немецких компаний, таких как OXFORD INSTRUMENTS ANALYTICAL (системы для микроанализа), GATAN (приставки к электронным микроскопам, системы пробоподготовки), OLYMPUS SOFT IMAGING SYSTEM (программное обеспечение и системы регистрации для электронной микроскопии) и др.

Поставляемое оборудование находит широкое применение: от фундаментальных исследований, до решения сугубо прикладных задач на современных производствах.

"Токио Боэки" предоставляет своим заказчикам весь спектр услуг: поставку оборудования, гарантийное и послегарантийное обслуживание, поставку запчастей и расходных материалов, обучение персонала, методическую поддержку и т.д.

  • JIB-4000 Plus
  • Технические характеристики
  • Фотогалерея

JEOL JIB-4000 Plus ионный микроскоп с функций ионного травления

JIB-4000 Plus – это однолучевая система со сфокусированным ионным пучком, которая может быть использована в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов либо в качестве системы ионного травления для приготовления образцов РЭМ и ПЭМ. Она оснащена ионной колонной специальной конструкции и отличается высокой производительностью и надежностью. Графический интерфейс пользователя прост и понятен, и управление системой не представляет трудностей даже для начинающих операторов.

По желанию заказчика, JIB-4000 Plus может быть одновременно укомплектован двумя столиками образцов, первый из которых полностью совместим со стандартными держателями образцов растровых электронных микроскопов, а второй – с держателями ПЭМ. Эта полезная опция позволяет проверять качество приготовления образцов, предназначенных для исследований методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, проводить их обработку и утонение, не демонтируя с держателей, а значит, не подвергая риску повреждений. Столик каждого типа в JIB-4000 Plus оснащен шлюзовой камерой. Это позволяет экономить время при замене образцов, а, главное, уменьшает степень загрязнения камеры образцов и ионно-оптической колонны.

Для данной ионной системы разработано множество разнообразных приставок. Они позволяют проводить напыление углеродом, вольфрамом и платиной, манипулировать образцами больших размеров, проводить ионное травление по заданному шаблону (ионную литографию), работать с держателями сканирующих электронных микроскопов и микроанализаторов старых моделей.

Основные преимущества:

• Стабильная, надежная, высокопроизводительная ионная колонна специальной конструкции, позволяющая в режиме травления быстро стравливать большие объемы материала, а в режиме наблюдения обеспечивающая высокое разрешение получаемых микрофотографий (5 нм с использованием детектора вторичных электронов);
• Возможность работы с образцами, уже установленными на держатели растровых и просвечивающих электронных микроскопов или электронно-зондовых микроанализаторов;
• Наличие программного обеспечения для проведения ионной литографии;
• Возможность напыления образцов углеродом, вольфрамом и платиной;
• Наличие двух шлюзов: для держателей РЭМ и для держателей ПЭМ.
• Суммарная стоимость JIB-4000 Plus и РЭМ JEOL ниже стоимости двулучевой системы, а производительность – выше.
Jeol Oxford Gatan Bruker

© 1959—2025 TOKYO BOEKI.

All Rights Reserved.