- На главную ->
- Приборы ->
- Растровые микроскопы ->
- Термоэмиссионные ->
- JEOL JSM IT-500
- JSM-IT500
- Технические характеристики
- Фотогалерея
Аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500
Новый высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500, пришедший на замену JSM-IT300, принадлежит к тому же семейству многофункциональных эргономичных РЭМ InTouchScopes, что и настольная модель JCM-6000PLUS (NeoScope II), компактная бюджетная модель JSM-IT100, а также аналитический растровый электронный микроскоп JSM-IT300.
Система управления JSM-IT500 основана на 64-битной операционной системе Windows 10, надёжна, предельно проста и интуитивно понятна. Она позволяет управлять микроскопом четырьмя способами: при помощи клавиатуры и мыши; при помощи консоли оператора РЭМ; используя 23-дюймовый сенсорный монитор; либо дистанционно, с планшета iPad по сети Wi-Fi. Последний способ хорош при работе с вредными для здоровья оператора образцами или для исследований в «чистых помещениях», где длительное нахождение персонала некомфортно и нежелательно. Все функции управления микроскопом автоматизированы: откачка, накал катода, фокусировка изображения, устранение астигматизма, корректировка яркости и контраста и т.п. Это позволяет даже новичкам быстро освоиться за прибором и получать хорошие результаты. Для опытных операторов оставлена возможность самостоятельно осуществлять настройки всех вышеуказанных параметров вручную.
Конденсорная линза JSM-IT500 позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса. Отклоняющие катушки (дефлекторы) рассчитаны на большие углы отклонения электронного пучка, что делает удобной работу с большими образцами, с которыми довольно часто сталкиваются операторы центральных заводских лабораторий. Катоды, используемые в JSM-IT500, предварительно отцентрированы на заводе, и их замена занимает считанные минуты. Диафрагма объективной линзы легко заменяется и центрируется силами оператора, что значительно ускоряет и удешевляет сервисное обслуживание прибора.
В микроскопе JSM-IT500 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет исследовать непроводящие, газящие и биологические образцы без предварительной пробоподготовки.
Большое количество портов в камере образцов JSM-IT500 позволяет устанавливать разнообразные приставки и проводить спектральное картирование, анализ элементного и фазового состава образцов в отдельных точках, по площади и вдоль линии, изучать локальные резистивные характеристики объектов исследований, их спектры катодолюминесценции и комбинационного рассеяния и многое другое.
Основные преимущества JSM-IT500:
• Надежная электронно-оптическая колонна, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса;• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 200 мм, а также устанавливать множество разнообразных приставок;
• Специальная конструкция электронной пушки даёт оператору возможность выбора катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований;
• Все катоды предварительно отцентрированы на заводе; их замена предельно проста и занимает считанные минуты;
• Тщательно продуманная, полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система отличается высочайшей надёжностью и долговечностью;
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows 10 с хорошо развитой системой подсказок и обучающих видеопособий делает работу оператора быстрой и удобной;
• Специализированное программное обеспечение для морфометрического анализа изображений, статистической обработки данных и автоматического создания отчетов позволяет быстро и наглядно представить полученные результаты;
• Использование шлюзовой камеры сокращает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения окошек аналитических приставок, в несколько раз продлевает срок службы катода и диафрагм микроскопа.
