Начат выпуск многофункционального просвечивающего микроскопа JEM-F200

В январе 2016 года компания JEOL начинает выпуск JEM-F200 – универсального двухсоткиловольтного аналитического просвечивающего электронного микроскопа нового поколения. По выбору заказчика этот прибор может комплектоваться термополевым либо автоэмиссионным источником электронов, разными полюсными наконечниками, раличными детекторами и аналитическими приставками (ЭДС, СХПЭ), камерами бокового и нижнего крепления.
Более подробная информация о технических характеристиках JEM-F200 доступна по этой ссылке: http://emicroscope.ru/microscopes/prosvet/jeol-jem-f200.html