Компания "Токио Боэки" более 55 лет специализируется на поставках в Россию и страны СНГ научного и лабораторного оборудования. "Токио Боэки" известна, прежде всего, как официальный представитель ведущего японского производителя электронно-оптического и аналитического оборудования - компании JEOL. Кроме того, мы поставляем оборудование английских, американских и немецких компаний, таких как OXFORD INSTRUMENTS ANALYTICAL (системы для микроанализа), GATAN (приставки к электронным микроскопам, системы пробоподготовки), OLYMPUS SOFT IMAGING SYSTEM (программное обеспечение и системы регистрации для электронной микроскопии) и др.

Поставляемое оборудование находит широкое применение: от фундаментальных исследований, до решения сугубо прикладных задач на современных производствах.

"Токио Боэки" предоставляет своим заказчикам весь спектр услуг: поставку оборудования, гарантийное и послегарантийное обслуживание, поставку запчастей и расходных материалов, обучение персонала, методическую поддержку и т.д.

Аналитическое оборудование и приборы

Просвечивающие микроскопы

Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) – приборы, построенные на эффекте прохождения пучка электронов через тонкий образец. Благодаря меньшей, чем у света, длине волны электронов, данное аналитическое оборудование позволяет изучать образцы с разрешением в десятки тысяч раз превосходящим разрешение самого совершенного светооптического микроскопа. С помощью ПЭМ возможно изучение строения объектов даже на атомарном уровне. ПЭМ является одним из основных методов исследования в целом ряде прикладных областей: физике, биологии, материаловедении и т.д.

Растровые микроскопы

Растровые электронные микроскопы (РЭМ) – это приборы, позволяющие проводить изучение тонкой структуры поверхности массивных образов с помощью сфокусированного электронного пучка, сканирующего поверхность образца. Благодаря меньшей, чем у света, длине волны электронов, растровый (сканирующий) электронный микроскоп позволяет изучать образцы с разрешением, в десять тысяч раз превосходящим разрешение самого совершенного светооптического микроскопа, поэтому с помощью РЭМ возможно изучение объектов нанометровых размеров. Современные лабораторное оборудование РЭМ позволяют изучать как проводящие, так и непроводящие образцы, а оснащение микроскопа аналитическими приставками значительно расширяет возможности метода. Растровая электронная микроскопия используется практически во всех областях науки и производства, исключая разве что филологию: в физике, биологии, материаловедении, химии, геологии, экологии, археологии, криминалистике и т.д.

Электронно-лучевая литография

Пробоподготовка

Каждый специалист в области электронной микроскопии знает, что правильное приготовление образцов – это больше половины успеха в их исследовании. В данном разделе сайта представлены устройства для ионной резки и полировки образцов, напыления на их поверхность слоев углерода или различных металлов и др.

Микроанализ

На колонну электронного микроскопа можно устанавливать различные приставки, которые позволяют проводить локальный элементный, фазовый, структурный анализ, а также другие виды анализов. В данном разделе представлены только те детекторы, которые устанавливаются на колонну растровых или просвечивающих электронных микроскопов: системы энергодисперсионного анализа (ЭДС), спектрометры с дисперсией по длинам волн (ВДС), дететкторы дифракции отраженных электронов, детекторы и спектрометры катодолюминесценции, спектрометры характеристических потерь энергии электронов (СХПЭ), наноманипуляторы и т.д.

OXFORD ► | GATAN ► | BRUKER ►

МОДЕЛИ МИКРОСКОПОВ СНЯТЫХ С ПРОИЗВОДСТВА ►

Jeol Oxford Gatan Bruker

© 1959—2023 TOKYO BOEKI.

All Rights Reserved.