Микроскопы снятые с производства

JEOL JSM-F100 - новый растровый электронный микроскоп компании, пришедший на замену РЭМ JSM-7200F, способен работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи

В отдел разработок JEOL поступало много запросов на создание недорогого, компактного растрового электронного микроскопа с катодом Шоттки и большой камерой образцов. За основу был взят высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп JSM-IT500

JEOL JSM-6000PLUS (Neoscope II) - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. Этот прибор принадлежит к семейству многофункциональных РЭМ InTouchScopes.

JEOL JSM-IT300 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

Сканирующий электронный микроскоп, позволяющий исследовать образцы на воздухе. ClairScope™ состоит из инвертированного атмосферного растрового электронного микроскопа (ASEM), расположенного снизу, и оптического электронного микроскопа, расположенного сверху.

JIB-4510 – это двухлучевая система, представляющая собой многофункциональный растровый электронный микроскоп, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Новый растровый электронный микроскоп компании JEOL, JSM-7200F, разрабатывался как универсальный прибор, способный работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи. Этот РЭМ позволяет изучать даже магнитные, электронепроводящие, биологические, а также чувствительные к воздействию электронного пучка образцы.

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420 разработана для быстрой и простой подготовки образцов как для проведения микроанализа, так и для исследования морфологии в режиме высокого разрешения в просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Напылительная установка позволяет работу в нескольких режимах: напыление углеродной пленки, осаждение пленки металла, изготовление реплик. Кроме того, напылительная установка может использоваться для отжига диафрагм электронных микроскопов и в различных экспериментах, требующих нагрева образцов в вакууме.

JIB-4610F – это двулучевая система, представляющая собой термополевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления

Одна из самых распространенных серий растровых электронных микроскопов. Эти приборы надежны, производительны и недороги. Они позволяют проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума.

JSM-7500F – это растровый электронный микроскоп с «холодным» (автоэмиссионным) катодом, который сочетает в себе простоту управления, большой срок службы катода, аналитические возможности, а также экономичность в энергопотреблении. Холодный катод и объективная линза открытого типа (semi-in-lens) позволяют получать изображения с высоким разрешением и контрастом при малых токах пучка и низких ускоряющих напряжениях. Это особенно важно при работе с деликатными, чувствительными к пучку, образцами – полимерами, биологическими образцами, полупроводниками и т.п.

В JEOL JEM-2100 предусмотрена возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований.

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму Gentle Beam (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.

JSM-7100F – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки. Этот микроскоп является оптимальным решением для работы с наноразмерными образцами, он совмещает в себе высокую разрешающую способность необходимую для получения высокого разрешения при больших увеличениях при визуальном исследования образцов и высокие токовые характеристики электронного пучка (ток пучка до 200 нА).

Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.

Просвечивающий электронный микроскоп с полевой эмиссией, имеющий разрешение 0,17 нм—лучший показатель среди всех аналогичных приборов доступных на рынке.